Sylabus AEC-1048

Syllabus

AEC-1048 METROLOGIA Y NORMALIZACION

MIM. CARLOS ALBERTO DECENA CHAN

cadecena@itescam.edu.mx

Semestre	Horas Teoría	Horas Práctica	Créditos	Clasificación
3	2	2	4	Ingeniería Aplicada

Prerrequisitos

• Conocer los sistemas internacionales de medida. • Realizar cálculos matemáticos. • Interpretación y codificación de planos. • Conocer las dimensiones y tolerancias geométricas. • Fundamentos básicos de electricidad y electrónica y el uso de equipos de medición.

Competencias

Atributos de Ingeniería

Normatividad

1. Para tener derecho a presentar cada una de las evaluaciones parciales correspondientes al semestre el alumno ha de mantener el 80% de asistencia, al término de cada parcial. 2. Las tolerancias máximas de ingreso al salón de clases, serán: 10 min., después se considerará como retardo y 20 min. después el alumno será acreedor a la falta correspondiente. 3. La falta grupal a clase será considerada doble y se dará como visto el tema del día. 4. Otras circunstancias, merecedoras de llamadas de atención o sanciones, serán resueltas en los tiempos y formas pertinentes.-- Los estudiantes deben guardar silencio desde el inicio hasta el final de la Sesión de Clase. Regla Primordial en las sesiones de clase. Existen dos Advertencias a esta regla (NO existe la tercera advertencia): 1.- La primera advertencia consiste en solicitar al estudiante de la manera más cordial su salida de la Sesión de Clase, sanción correspondiente la respectiva falta del día de clase. 2.- La segunda advertencia consiste: El estudiante que incurra por segunda ocasión en no guardar el orden dentro del aula de clase, obtendrá como sanción su expulsión de la materia, en consecuencia debido a faltas pierde el derecho a exámenes ordinarios.-- Formar filas uniformes, dejando un pasillo en la parte de en medio del aula, sin excepción alguna ningún estudiante podrá tomar asiento en la parte final del aula.--Respecto a una Petición o Solicitud de Palabra del estudiante hacia el profesor, durante la Sesión de Clase, el estudiante deberá alzar la mano -- Esta estrictamente prohibido ingerir alimentos, golosinas y refrescos durante la sesión de clases, lo anterior hace acreedor al estudiante a una Sanción.-- Celulares en Modo Silencio, el alumno que incurra en lo anterior, obtendrá como sanción ser voluntario a participar en las dinámicas de clase o resolver ejercicios si la clase lo amerita.

Materiales

Calculadora y Tablas de Conversión de Unidades. 1. González González, Carlos Zeleny. “Metrología”, ed. Mc-Graw-Hill. 2. Gutiérrez, Zavala, Patricia y Marco A. Paredes Lizárraga, “Apuntes de metrología y normalización”. 3. González González, Carlos., Zeleny Vázquez, Ramón. “Metrología Dimensional”, Editorial Mc Graw Hill. 4. Galicia Sánchez., García Lira., Herrera Martínez. Metrología Geométrica Dimensional, Editorial AGT Editores, S. A. 5. Karcz, Andres. Fundamentos de Metrología Eléctrica Tomos I y II, Editorial Alfa Omega. 6. Mitutoyo. Metrología y normalización. 7. Estévez Tapia, Luciano Ángel. Norma Oficial Mexicana: NOM-001-SEDE 1999. Instalaciones Eléctricas, Editorial Alfa Omega. 8. Diario Oficial de la Federación, Ley Federal sobre Metrología y Normalización. 9. Rhotery, Brian. ISO 14000, ISO 9000, Editorial Panorama. 10. COTENNSISCAL, Norma mexicana NMX-CC.017/1. 11. Hechtty Sajak, R. Optica Editorial Fondo educativo interamericana. 12. Gasvik Kjell J. Optical Metrology, Editorial John Wiley. 13. Perry Jonson L. Meeting the New International Standars ISO 9000, Editorial Mc Graw Hill. 14. Chávez Salcedo, Guillermo. Manual para el Diseño de Normas de Competencia Laboral, Editorial Panorama.

Bibliografía disponible en el Itescam
Título	Autor	Editorial	Edición/Año	Ejemplares

Parámetros de Examen
PARCIAL 1	De la actividad 1.1.1 a la actividad 1.11.1
PARCIAL 2	De la actividad 2.1.1 a la actividad 2.9.2

Contenido (Unidad / Competencia / Actividad / Material de Aprendizaje)
1. Normalización 1.1. Definición y concepto de normalización 1.1.1. Definición y concepto de normalización Metrología; Carlos González Gonzales y Ramón Zeleny Vázquez, de la Editorial Mc Graw Hill del Capítulo 1 de las paginas 1 hasta la 24 Metrología;Carlos González Gonzales y Ramón Zeleny Vázquez, de la Editorial Mc Graw Hill; del Capítulo 2 de las paginas 25 hasta la 39 1.2. Espacio de normalización 1.2.1. Espacio de normalización Metrología; Carlos González Gonzales y Ramón Zeleny Vázquez, de la Editorial Mc Graw Hill del Capítulo 1 de las paginas 1 hasta la 24 Espacio de normalización (914921 bytes) 1.3. Esquema mexicano de normalización 1.3.1. Esquema mexicano de normalización Metrología; Carlos González Gonzales y Ramón Zeleny Vázquez, de la Editorial Mc Graw Hill del Capítulo 1 de las paginas 1 hasta la 24 Esquema mexicano de normalización (914921 bytes) 1.4. Fundamentos legales 1.4.1. Fundamentos legales Metrología; Carlos González Gonzales y Ramón Zeleny Vázquez, de la Editorial Mc Graw Hill del Capítulo 1 de las paginas 1 hasta la 24 Fundamentos legales (914921 bytes) 1.5. Normas oficiales mexicanas NOM 1.5.1. Normas oficiales mexicanas NOM Metrología;Carlos González Gonzales y Ramón Zeleny Vázquez, de la Editorial Mc Graw Hill; del Capítulo 2 de las paginas 25 hasta la 39. Normas oficiales mexicanas NOM Normas oficiales mexicanas NOM (914921 bytes) 1.6. Normas mexicanas NMX 1.6.1. Normas mexicanas NMX Metrología; Carlos González Gonzales y Ramón Zeleny Vázquez, de la Editorial Mc Graw Hill del Capítulo 1 de las paginas 1 hasta la 24. Metrología;Carlos González Gonzales y Ramón Zeleny Vázquez, de la Editorial Mc Graw Hill; del Capítulo 2 de las paginas 25 hasta la 39. Normas mexicanas NMX (914921 bytes) 1.7. Organismos de normalización y certificación 1.7.1. Organismos de normalización y certificación Metrología; Carlos González Gonzales y Ramón Zeleny Vázquez, de la Editorial Mc Graw Hill del Capítulo 1 de las paginas 1 hasta la 24. Metrología;Carlos González Gonzales y Ramón Zeleny Vázquez, de la Editorial Mc Graw Hill; del Capítulo 2 de las paginas 25 hasta la 39. Organismos de normalización y certificación (914921 bytes) 1.8. La certificación de normas técnicas de competencia laboral 1.8.1. La certificación de normas técnicas de competencia laboral Metrología; Carlos González Gonzales y Ramón Zeleny Vázquez, de la Editorial Mc Graw Hill del Capítulo 1 de las paginas 1 hasta la 24. La certificación de normas técnicas de competencia laboral (914921 bytes) 1.9. Normas de metrología 1.9.1. Normas de metrología Metrología; Carlos González Gonzales y Ramón Zeleny Vázquez, de la Editorial Mc Graw Hill del Capítulo 1 de las paginas 1 hasta la 24. Normas de metrología (914921 bytes) 1.10. Sistemas metrológico y su relación con el sistema de calidad 1.10.1. Sistemas metrológico y su relación con el sistema de calidad Metrología; Carlos González Gonzales y Ramón Zeleny Vázquez, de la Editorial Mc Graw Hill del Capítulo 1 de las paginas 1 hasta la 24. Metrología;Carlos González Gonzales y Ramón Zeleny Vázquez, de la Editorial Mc Graw Hill; del Capítulo 2 de las paginas 25 hasta la 39. Sistemas metrológico y su relación con el sistema de calidad (914921 bytes) 1.11. Acreditación de laboratorios de prueba 1.11.1. Acreditación de laboratorios de prueba Introducción a la Administración; Sergio Hernández y Rodriguez, de la Editorial Mc Graw Hill, de la 4ta. Edición; del Capítulo 15 de las paginas 383 hasta la 400. Metrología; Carlos González Gonzales y Ramón Zeleny Vázquez, de la Editorial Mc Graw Hill del Capítulo 1 de las paginas 1 hasta la 24. Metrología;Carlos González Gonzales y Ramón Zeleny Vázquez, de la Editorial Mc Graw Hill; del Capítulo 2 de las paginas 25 hasta la 39. Acreditación de laboratorios de prueba (914921 bytes)
2. Metrología 2.1. Antecedentes 2.1.1. Antecedentes Metrología (8311286 bytes) Capitulo 3: Metrología; Carlos González Gonzales y Ramón Zeleny Vázquez, de la Editorial Mc Graw Hill apitulos 3, 4, 5, 6, 7, 9 y 10: Metrología; Carlos González Gonzales y Ramón Zeleny Vázquez, de la Editorial Mc Graw Hill Antecedentes: Metrología Investigación Documental http://ocw.mit.edu/index.htm 2.2. Conceptos básicos 2.2.1. Conceptos básicos Capitulo 3: Metrología; Carlos González Gonzales y Ramón Zeleny Vázquez, de la Editorial Mc Graw Hill http://ocw.mit.edu/index.htm 2.3. Uso de los sistemas internacionales de medida 2.3.1. Uso de los sistemas internacionales de medida Capitulo 4: Metrología; Carlos González Gonzales y Ramón Zeleny Vázquez, de la Editorial Mc Graw Hill http://ocw.mit.edu/index.htm 2.4. Diferencia, ventajas y desventajas de instrumentos analógicos y digitales 2.4.1. Diferencia, ventajas y desventajas de instrumentos analógicos y digitales Capitulo 10: Metrología; Carlos González Gonzales y Ramón Zeleny Vázquez, de la Editorial Mc Graw Hill 2.5. Campos de aplicación de la metrología 2.5.1. Campos de aplicación de la metrología Capitulo 3: Metrología; Carlos González Gonzales y Ramón Zeleny Vázquez, de la Editorial Mc Graw Hill http://ocw.mit.edu/index.htm 2.6. Metrología dimensional: Generalidades,diemensiones y tolerancias geométricas,Definiciones, Sistemas ISC de tolerancias, Calculo de ajustes y tolerancias 2.6.1. Metrología dimensional: Generalidades,diemensiones y tolerancias geométricas,Definiciones, Sistemas ISC de tolerancias, Calculo de ajustes y tolerancias Capitulo 3: Metrología; Carlos González Gonzales y Ramón Zeleny Vázquez, de la Editorial Mc Graw Hill http://ocw.mit.edu/index.htm 2.7. Tipos de errores: Definición, impacto en la medición, Clasificación, Causas de los errores, Consecuencias en la medición, Estudios de R y R 2.7.1. Tipos de errores: Definición, impacto en la medición, Clasificación, Causas de los errores, Consecuencias en la medición, Estudios de R y R Capitulo 4: Metrología; Carlos González Gonzales y Ramón Zeleny Vázquez, de la Editorial Mc Graw Hill Capitulo 5: Metrología; Carlos González Gonzales y Ramón Zeleny Vázquez, de la Editorial Mc Graw Hill http://ocw.mit.edu/index.htm 2.8. Instrumentos de medición directa 2.8.1. Clasificación de los instrumentos de medición Clasificación de los instrumentos de medición (8311286 bytes) 2.8.2. Instrumentos de medición analógica y digital Instrumentos de medición analógica y digital (8311286 bytes) 2.8.3. Calibrador vernier Calibrador vernier (8311286 bytes) 2.8.4. Micrómetro Micrómetro (8311286 bytes) 2.8.5. Comparadores de carátula Comparadores de caratula (8311286 bytes) 2.8.7. Bloques de patrón Bloques de patrón (8311286 bytes) 2.8.8. Calibradores pasa-no pasa Calibradores pasa-no pasa (8311286 bytes) 2.8.9. Calibrador de altura Calibrador de altura (8311286 bytes) 2.9. Rugosidad 2.9.1. Características Fundamentos de Manufactura Moderna. Mikell P. Groover. Pearson Prentice Hall. 1 Edicion, Paginas: 90-96. Fundamentos de Manufactura Moderna. Mikell P. Groover. Pearson Prentice Hall. 1 Edicion, Paginas: 1020-1023. Capitulo 41: Fundamentos de Manufactura Moderna. Mikell P. Groover. Pearson Prentice Hall. 1 Edicion, Paginas: 1006-1030. Resumen Derecho a Examen. http://ocw.mit.edu/index.htm 2.9.2. Tipos de medición de rugosidad Hecht, Eugene, Fisica II, Thompson, Mexico,1990. Pag:1146. Temas de Fisica, Raul E. Reyes Calderon, Primera Edicion 2008. Pags.:145-148, 151,165,182-185,189. Tipos de medición de rugosidad (291960 bytes)
3. Metrología óptica e instrumentación básica 3.1. Introducción a la óptica 3.1.1. Introducción a la óptica Temas de Fisica, Raul E. Reyes Calderon, Primera Edicion 2008. Pags.:145-148, 151,165,182-185,189. Hecht, Eugene, Fisica II, Thompson, Mexico,1990. Pag:1146. Introducción a la óptica (1642830 bytes) Introducción a la óptica (1095764 bytes) 3.2. Óptica geométrica 3.2.1. Óptica geométrica Hecht, Eugene, Fisica II, Thompson, Mexico,1990. Pag:1146. Temas de Fisica, Raul E. Reyes Calderon, Primera Edicion 2008. Pags.:145-148, 151,165,182-185,189. Óptica geométrica (406405 bytes) 3.3. Óptica física 3.3.1. Óptica física Temas de Fisica, Raul E. Reyes Calderon, Primera Edicion 2008. Pags.:145-148, 151,165,182-185,189. Hecht, Eugene, Fisica II, Thompson, Mexico,1990. Pag:1146. Óptica física (978395 bytes) 3.4. Diferencia, ventajas y desventajas de instrumentos analógicos y digitales 3.4.1. Diferencia, ventajas y desventajas de instrumentos analógicos y digitales Diferencia, ventajas y desventajas de instrumentos analógicos y digitales (980480 bytes) 3.5. Instrumentos ópticos 3.5.1. Instrumentos ópticos Hecht, Eugene, Fisica II, Thompson, Mexico,1990. Pag:1146. Temas de Fisica, Raul E. Reyes Calderon, Primera Edicion 2008. Pags.:145-148, 151,165,182-185,189. Instrumentos ópticos (114453 bytes) 3.6. Instrumentos mecánicos 3.6.1. Instrumentos mecánicos Capitulo 10: Metrología; Carlos González Gonzales y Ramón Zeleny Vázquez, de la Editorial Mc Graw Hill, Primera Edicion Instrumentos mecánicos (2918009 bytes) 3.7. Medidores de presión 3.7.1. Medidores de presión Medidores de presión (934404 bytes) Capitulo 13: Metrología; Carlos González Gonzales y Ramón Zeleny Vázquez, de la Editorial Mc Graw Hill, Primera Edicion. 3.8. Medidores de torsión 3.8.1. Medidores de torsión Medidores de torsión (934404 bytes) Capitulo 15: Metrología; Carlos González Gonzales y Ramón Zeleny Vázquez, de la Editorial Mc Graw Hill, Primera Edicion. 3.9. Medidores de esfuerzos mecánicos 3.9.1. Medidores de esfuerzos mecánicos Medidores de esfuerzos mecánicos (934404 bytes) Capitulo 14: Metrología; Carlos González Gonzales y Ramón Zeleny Vázquez, de la Editorial Mc Graw Hill, Primera Edicion. 3.10. Medidores de dureza 3.10.1. Medidores de dureza Medidores de dureza (934404 bytes) Capitulo 3, Seccion 3.2 Dureza: Fundamentos de Manufactura Moderna, Mikell P. Groover, Pearson Prentice Hall. 1ª Edicion 3.11. Instrumentos de medición por coordenadas (X, Y, Z) 3.11.1. Instrumentos de medición por coordenadas (X, Y, Z) apitulo 41, Seccion 41.5 Instrumentos de medición por coordenadas (X,Y, Z): Fundamentos de Manufactura Moderna. Mikell P. Groover. Pearson Prentice Hall. 1ª Edicion. nstrumentos de medición por coordenadas (X, Y, Z) (103833 bytes) Instrumentos de medición por coordenadas (X, Y, Z) (97208 bytes)