Syllabus

AEC-1048 METROLOGIA Y NORMALIZACION

MCEIE. RICARDO GOMEZ KU

rgomez@itescam.edu.mx

Semestre Horas Teoría Horas Práctica Créditos Clasificación
2 2 2 4 Ingeniería Aplicada

Prerrequisitos
• Conocer los sistemas internacionales de medida. • Realizar cálculos matemáticos. • Interpretación y codificación de planos. • Conocer las dimensiones y tolerancias geométricas. • Fundamentos básicos de electricidad y electrónica y el uso de equipos de medición.

Competencias Atributos de Ingeniería

Normatividad
1. Para tener derecho a presentar cada una de las evaluaciones parciales correspondientes al semestre el alumno ha de mantener el 80% de asistencia, al término de cada parcial. 2. Las tolerancias máximas de ingreso al salón de clases, serán: 10 min., después se considerará como retardo y 20 min. después el alumno será acreedor a la falta correspondiente. 3. La falta grupal a clase será considerada doble y se dará como visto el tema del día. 4. Otras circunstancias, merecedoras de llamadas de atención o sanciones, serán resueltas en los tiempos y formas pertinentes.-- Los estudiantes deben guardar silencio desde el inicio hasta el final de la Sesión de Clase. Regla Primordial en las sesiones de clase. Existen dos Advertencias a esta regla (NO existe la tercera advertencia): 1.- La primera advertencia consiste en solicitar al estudiante de la manera más cordial su salida de la Sesión de Clase, sanción correspondiente la respectiva falta del día de clase. 2.- La segunda advertencia consiste: El estudiante que incurra por segunda ocasión en no guardar el orden dentro del aula de clase, obtendrá como sanción su expulsión de la materia, en consecuencia debido a faltas pierde el derecho a exámenes ordinarios.-- Formar filas uniformes, dejando un pasillo en la parte de en medio del aula, sin excepción alguna ningún estudiante podrá tomar asiento en la parte final del aula.--Respecto a una Petición o Solicitud de Palabra del estudiante hacia el profesor, durante la Sesión de Clase, el estudiante deberá alzar la mano -- Esta estrictamente prohibido ingerir alimentos, golosinas y refrescos durante la sesión de clases, lo anterior hace acreedor al estudiante a una Sanción.-- Celulares en Modo Silencio, el alumno que incurra en lo anterior, obtendrá como sanción ser voluntario a participar en las dinámicas de clase o resolver ejercicios si la clase lo amerita.

Materiales
Calculadora y Tablas de Conversión de Unidades. 1. González González, Carlos Zeleny. “Metrología”, ed. Mc-Graw-Hill. 2. Gutiérrez, Zavala, Patricia y Marco A. Paredes Lizárraga, “Apuntes de metrología y normalización”. 3. González González, Carlos., Zeleny Vázquez, Ramón. “Metrología Dimensional”, Editorial Mc Graw Hill. 4. Galicia Sánchez., García Lira., Herrera Martínez. Metrología Geométrica Dimensional, Editorial AGT Editores, S. A. 5. Karcz, Andres. Fundamentos de Metrología Eléctrica Tomos I y II, Editorial Alfa Omega. 6. Mitutoyo. Metrología y normalización. 7. Estévez Tapia, Luciano Ángel. Norma Oficial Mexicana: NOM-001-SEDE 1999. Instalaciones Eléctricas, Editorial Alfa Omega. 8. Diario Oficial de la Federación, Ley Federal sobre Metrología y Normalización. 9. Rhotery, Brian. ISO 14000, ISO 9000, Editorial Panorama. 10. COTENNSISCAL, Norma mexicana NMX-CC.017/1. 11. Hechtty Sajak, R. Optica Editorial Fondo educativo interamericana. 12. Gasvik Kjell J. Optical Metrology, Editorial John Wiley. 13. Perry Jonson L. Meeting the New International Standars ISO 9000, Editorial Mc Graw Hill. 14. Chávez Salcedo, Guillermo. Manual para el Diseño de Normas de Competencia Laboral, Editorial Panorama.

Bibliografía disponible en el Itescam
Título
Autor
Editorial
Edición/Año
Ejemplares

Parámetros de Examen
PARCIAL 1 De la actividad 1.1.1 a la actividad 1.3.1
PARCIAL 2 De la actividad 2.1.1 a la actividad 2.10.1

Contenido (Unidad / Competencia / Actividad / Material de Aprendizaje)
1. NORMALIZACIÓN
          1.1. Introducción
                   1.1.1. Definición y concepto de normalización.
                           INTRODUCCIÓN A LA NORMALIZACIÓN I_Investigación Documental (177067 bytes)
                           Metrología;Carlos González Gonzales y Ramón Zeleny Vázquez, de la Editorial Mc Graw Hill; del Capítulo 2 de las paginas 25 hasta la 39.
                           Metrología; Carlos González Gonzales y Ramón Zeleny Vázquez, de la Editorial Mc Graw Hill del Capítulo 1 de las paginas 1 hasta la 24.
                           INTRODUCCIÓN A LA NORMALIZACIÓN I__Investigación Documenta_Objetivos (89281 bytes)
                           INTRODUCCIÓN A LA NORMALIZACIÓN I_ Exposición_Investigación Documental (83665 bytes)
                           INTRODUCCIÓN A LA NORMALIZACIÓN II_ Exposición_Investigación Documental (63968 bytes)
                          
                   1.1.2. Filosofía de la normalización.
                           INTRODUCCIÓN A LA NORMALIZACIÓN I_Investigación Documental (177067 bytes)
                           Metrología; Carlos González Gonzales y Ramón Zeleny Vázquez, de la Editorial Mc Graw Hill del Capítulo 1 de las paginas 1 hasta la 24.
                           INTRODUCCIÓN A LA NORMALIZACIÓN I_ Exposición_Filosofía de la normalización_Investigación Documental (123042 bytes)
                           INTRODUCCIÓN A LA NORMALIZACIÓN I_ Exposición_Filosofía de la normalización II _Investigación Documental (289732 bytes)
                          
          1.2. Espacio de la normalización.
                   1.2.1. Espacio de la normalización
                           INTRODUCCIÓN A LA NORMALIZACIÓN I_Investigación Documental (177067 bytes)
                           Metrología; Carlos González Gonzales y Ramón Zeleny Vázquez, de la Editorial Mc Graw Hill del Capítulo 1 de las paginas 1 hasta la 24.
                           Metrología;Carlos González Gonzales y Ramón Zeleny Vázquez, de la Editorial Mc Graw Hill; del Capítulo 2 de las paginas 25 hasta la 39.
                           INTRODUCCIÓN A LA NORMALIZACIÓN I_ Exposición_ Espacio de la normalización_Investigación Documental (63968 bytes)
                          
          1.3. Normas nacionales e internacionales (ISO, SAE; ASTM; NOM, etc.)
                   1.3.1. ISO, SAE, ASTM, NOM
                           INTRODUCCIÓN A LA NORMALIZACIÓN II_Investigación Documental (108032 bytes)
                           INTRODUCCIÓN A LA NORMALIZACIÓN I_Investigación Documental (177067 bytes)
                           Introducción a la Administración; Sergio Hernández y Rodriguez, de la Editorial Mc Graw Hill, de la 4ta. Edición; del Capítulo 15 de las paginas 383 hasta la 400.
                           INTRODUCCIÓN A LA NORMALIZACIÓN I_ Exposición_Normas nacionales e internacionales (ISO, SAE; ASTM; NOM, etc.) \ ISO, SAE, ASTM, NOM_Investigación Documental (250469 bytes)
                           INTRODUCCIÓN A LA NORMALIZACIÓN I_ Exposición_Normas nacionales e internacionales (ISO, SAE; ASTM; NOM, etc.) \ ISO, SAE, ASTM, NOMII _Investigación Documental (359975 bytes)
                          
2. Metrología.
          2.1. Antecedentes.
                   2.1.1. Antecedentes.
                           Capitulo 3: Metrología; Carlos González Gonzales y Ramón Zeleny Vázquez, de la Editorial Mc Graw Hill
                           Capitulos 3, 4, 5, 6, 7, 9 y 10: Metrología; Carlos González Gonzales y Ramón Zeleny Vázquez, de la Editorial Mc Graw Hill
                           Antecedentes: Metrología Investigación Documental
                           E#2 Antecedentes: Metrología Investigación Documental (13354200 bytes)
                           Antecedentes: Metrología Investigación Documental (12920832 bytes)
                           Fechas 2 Parcial ITESCAM 2010-2011 (43946 bytes)
                           http://ocw.mit.edu/index.htm
                          
          2.2. Conceptos básicos.
                   2.2.1. Conceptos básicos.
                           E#2 Conceptos básicos: Metrología Investigación Documental (6142464 bytes)
                           Capitulo 3: Metrología; Carlos González Gonzales y Ramón Zeleny Vázquez, de la Editorial Mc Graw Hill
                           E#2 Conceptos básicos: Metrología Investigación Documental (13354200 bytes)
                           http://ocw.mit.edu/index.htm
                          
          2.3. Uso de los sistemas internacionales de medida.
                   2.3.1. Uso de los sistemas internacionales de medida.
                           Capitulo 4: Metrología; Carlos González Gonzales y Ramón Zeleny Vázquez, de la Editorial Mc Graw Hill
                           E#2 Uso de los sistemas internacionales de medida: Metrología Investigación Documental (57935 bytes)
                           http://ocw.mit.edu/index.htm
                          
          2.4. Sistemas de medición, temperatura, presión, torsión y esfuerzos mecánicos.
                   2.4.1. Sistemas de medición, temperatura, presión, torsión y esfuerzos mecánicos.
                           E#2 Sistemas de medición, temperatura, presión, torsión y esfuerzos mecánicos.: Metrología Investigación Documental (283645 bytes)
                           Capitulo 4: Metrología; Carlos González Gonzales y Ramón Zeleny Vázquez, de la Editorial Mc Graw Hill
                           Sistemas de medición, temperatura, presión, torsión y esfuerzos mecánicos.: Metrología Investigación Documental (2118144 bytes)
                          
          2.5. Diferencia, ventajas y desventajas de instrumentos analógicos y digitales.
                   2.5.1. Diferencia, ventajas y desventajas de instrumentos analógicos y digitales.
                           E#2 Diferencia, ventajas y desventajas de instrumentos analógicos y digitales.: Metrología Investigación Documental (4270996 bytes)
                           Capitulo 10: Metrología; Carlos González Gonzales y Ramón Zeleny Vázquez, de la Editorial Mc Graw Hill
                          
          2.6. Campos de aplicación de la metrología.
                   2.6.1. Campos de aplicación de la metrología.
                           Campos de aplicación de la metrología: Metrología Investigación Documental (6142464 bytes)
                           Capitulo 3: Metrología; Carlos González Gonzales y Ramón Zeleny Vázquez, de la Editorial Mc Graw Hill
                           http://ocw.mit.edu/index.htm
                          
          2.7. Metrología dimensional: Generalidades, dimensiones y tolerancias geométricas, Definiciones, Sistemas ISC de tolerancias, Calculo de ajustes y tolerancias.
                   2.7.1. Metrología dimensional: Generalidades, dimensiones y tolerancias geométricas, Definiciones, Sistemas ISC de tolerancias, Calculo de ajustes y tolerancias.
                           E#2 Metrología dimensional: Metrología Investigación Documental (4270996 bytes)
                           Capitulo 3: Metrología; Carlos González Gonzales y Ramón Zeleny Vázquez, de la Editorial Mc Graw Hill
                           http://ocw.mit.edu/index.htm
                          
          2.8. Tipos de errores: Definición, Impacto en la medición, Clasificación, Causas de los errores, Consecuencias en la medición, Estudios de R y R.
                   2.8.1. Tipos de errores: Definición, Impacto en la medición, Clasificación, Causas de los errores, Consecuencias en la medición, Estudios de R y R.
                           Metrología I Investigación Documental (16297 bytes)
                           Capitulo 4: Metrología; Carlos González Gonzales y Ramón Zeleny Vázquez, de la Editorial Mc Graw Hill
                           Capitulo 5: Metrología; Carlos González Gonzales y Ramón Zeleny Vázquez, de la Editorial Mc Graw Hill
                           http://ocw.mit.edu/index.htm
                          
          2.9. Instrumentos de medición directa. • Clasificación de los instrumentos de medición. • Instrumentos de medición analógica y digital. • Calibrador Vernier. • Micrómetro. • Comparadores de carátula. • Bloques patrón. • Calibradores pasa – no pasa /Altura
                   2.9.1. Instrumentos de medición directa. • Clasificación de los instrumentos de medición. • Instrumentos de medición analógica y digital. • Calibrador Vernier. • Micrómetro. • Comparadores de carátula. • Bloques patrón. • Calibradores pasa – no pasa /Altura
                           E#2 Instrumentos de medición directa: Metrología III Investigación Documental (37888 bytes)
                           E#2 Instrumentos de medición directa: Metrología Investigación Documental (60191 bytes)
                           E#2 Instrumentos de medición directa: Metrología II Investigación Documental (16297 bytes)
                           E#2 Instrumentos de medición directa: Metrología IV Investigación Documental (17339 bytes)
                           Capitulos 6, 7, 9 y 10: Metrología; Carlos González Gonzales y Ramón Zeleny Vázquez, de la Editorial Mc Graw Hill
                           E#2 Instrumentos de medición directa: Metrología II Investigación Documental (413696 bytes)
                           E#2 Instrumentos de medición directa: Metrología III Investigación Documental (398848 bytes)
                           E#2 Instrumentos de medición directa: Metrología I Investigación Documental (137719 bytes)
                           http://ocw.mit.edu/index.htm
                          
          2.10. Rugosidad. • Características. • Tipos de medición de rugosidad.
                   2.10.1. Rugosidad. • Características. • Tipos de medición de rugosidad.
                           Fundamentos de Manufactura Moderna. Mikell P. Groover. Pearson Prentice Hall. 1 Edicion, Paginas: 90-96.
                           Fundamentos de Manufactura Moderna. Mikell P. Groover. Pearson Prentice Hall. 1 Edicion, Paginas: 1020-1023.
                           Capitulo 41: Fundamentos de Manufactura Moderna. Mikell P. Groover. Pearson Prentice Hall. 1 Edicion, Paginas: 1006-1030. Resumen Derecho a Examen.
                           http://ocw.mit.edu/index.htm
                          
3. Metrología óptica e instrumentación básica.
          3.1. Introducción a la óptica.
                   3.1.1. Introducción a la óptica.
                           Temas de Fisica, Raul E. Reyes Calderon, Primera Edicion 2008. Pags.:145-148, 151,165,182-185,189.
                           Hecht, Eugene, Fisica II, Thompson, Mexico,1990. Pag:1146.
                           Metrología óptica e instrumentación básica / Investigación Documental (2726362 bytes)
                           Introducción a la óptica: Metrología óptica e instrumentación básica Investigación Documental (240652 bytes)
                          
          3.2. Óptica geométrica.
                   3.2.1. Óptica geométrica.
                           Temas de Fisica, Raul E. Reyes Calderon, Primera Edicion 2008. Pags.:145-148, 151,165,182-185,189.
                           Óptica geométrica: Metrología Optica e Instrumentación Básica Investigación Documental (240652 bytes)
                          
          3.3. Óptica física.
                   3.3.1. Óptica física.
                           Temas de Fisica, Raul E. Reyes Calderon, Primera Edicion 2008. Pags.:145-148, 151,165,182-185,189.
                           Óptica física: Metrología Optica e Instrumentación Básica_Investigación Documental (240652 bytes)
                          
          3.4. Diferencia, ventajas y desventajas de instrumentos analógicos y digitales.
                   3.4.4. Diferencia, ventajas y desventajas de instrumentos analógicos y digitales.
                           Capitulo 10: Metrología; Carlos González Gonzales y Ramón Zeleny Vázquez, de la Editorial Mc Graw Hill, Primera Edicion.
                           Diferencia, ventajas y desventajas de instrumentos analógicos y digitales.: Metrología Óptica e Instrumentación Básica_Investigación Documental (1969877 bytes)
                          
          3.5. Instrumentos ópticos.
                   3.5.1. Instrumentos ópticos.
                           Hecht, Eugene, Fisica II, Thompson, Mexico,1990. Pag:1146.
                           Temas de Fisica, Raul E. Reyes Calderon, Primera Edicion 2008. Pags.:145-148, 151,165,182-185,189.
                           Instrumentos ópticos: Metrología Óptica e Instrumentación Básica / Investigación Documental (114478 bytes)
                          
          3.6. Instrumentos mecánicos
                   3.6.1. Instrumentos mecánicos
                           Capitulo 10: Metrología; Carlos González Gonzales y Ramón Zeleny Vázquez, de la Editorial Mc Graw Hill, Primera Edicion.
                           Instrumentos mecánicos: Metrología óptica e instrumentación básica / Investigación Documental. (2726362 bytes)
                          
          3.7. Medidores de presión.
                   3.7.1. Medidores de presión.
                           Capitulo 13: Metrología; Carlos González Gonzales y Ramón Zeleny Vázquez, de la Editorial Mc Graw Hill, Primera Edicion.
                           Medidores de presión: Metrología óptica e instrumentación básica / Investigación Documental (2726362 bytes)
                          
          3.8. Medidores de torsión.
                   3.8.1. Medidores de torsión.
                           Capitulo 15: Metrología; Carlos González Gonzales y Ramón Zeleny Vázquez, de la Editorial Mc Graw Hill, Primera Edicion.
                           Medidores de torsión: Metrología óptica e instrumentación básica / Investigación Documental (2726362 bytes)
                           Medidores de torsión. (2726362 bytes)
                          
          3.9. Medidores de esfuerzos mecánicos.
                   3.9.1. Medidores de esfuerzos mecánicos.
                           Capitulo 14: Metrología; Carlos González Gonzales y Ramón Zeleny Vázquez, de la Editorial Mc Graw Hill, Primera Edicion.
                           Medidores de esfuerzos mecánicos. (2726362 bytes)
                          
          3.10. Medidores de dureza.
                   3.10.1. Medidores de dureza.
                           Capitulo 3, Seccion 3.2 Dureza: Fundamentos de Manufactura Moderna, Mikell P. Groover, Pearson Prentice Hall. 1ª Edicion.
                           Medidores de dureza. (2726362 bytes)
                          
          3.11. Instrumentos de medición por coordenadas (X,Y, Z)
                   3.11.1. Instrumentos de medición por coordenadas (X,Y, Z)
                           Capitulo 41, Seccion 41.5 Instrumentos de medición por coordenadas (X,Y, Z): Fundamentos de Manufactura Moderna. Mikell P. Groover. Pearson Prentice Hall. 1ª Edicion.
                           Instrumentos de medición por coordenadas (X,Y, Z): Metrología Óptica e Instrumentación Básica_Investigación Documental (2918009 bytes)
                           FECHAS 3 Parcial ITESCAM 2010-2011 (40710 bytes)
                           Práctica de Laboratorio (68944 bytes)
                           Instrumentos de medición por coordenadas (X,Y, Z): Metrología Óptica e Instrumentación Básica Investigación Documental (98181 bytes)
                          

Prácticas de Laboratorio (20212022N)
Fecha
Hora
Grupo
Aula
Práctica
Descripción

Cronogramas (20212022N)
Grupo Actividad Fecha Carrera

Temas para Segunda Reevaluación