Syllabus
MAC-0503 Caracterización Estructural
DR. LUIS HUMBERTO MAY HERNANDEZ
lmay@itescam.edu.mx
Semestre | Horas Teoría | Horas Práctica | Créditos | Clasificación |
6 | 4 | 2 | 10 |
Prerrequisitos |
Física del Estado sólido: Estructura Cristalina I y II Defectos Estructurales Recuperación, Recristalización y Crecimiento de grano. | Matemáticas IV, Matemáticas III, Física II: Matrices Análisis Vectorial | Quimica Inorganica: Enlaces, Estructura Atómica y Teoría cuántica y estructura atómica. | Mineralogía y Procesamiento de Materias Primas: Cristalografia | Fisicoquimica II: Interpretación de los fenómenos superficiales | Fenomenos de transporte: Transporte de momento |
Competencias | Atributos de Ingeniería |
Normatividad |
Al inicio de la clase el alumno tendra una tolerancia de 10 min para ingresar al salon. Alumno (a) que porte vestimenta inapropiada (sandalias, bermudas, minifaldas) se le pedira retirarse de clase. Los celulares deben ser apagados o en su defecto en modo de silencio. Un requisito para que el alumno presente el examen departamental es que tenga un mínimo de 80 % de asistencia. Queda prohibido ingresar alimentos y bebidas al salon de clases. |
Materiales |
No se requiere material alguno. |
Bibliografía disponible en el Itescam | |||||
Título |
Autor |
Editorial |
Edición/Año |
Ejemplares |
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Parámetros de Examen | ||
PARCIAL 1 | De la actividad 1.1.1 a la actividad 2.7.1 | |
PARCIAL 2 | De la actividad 3.1.1 a la actividad 4.9.1 |
Contenido (Unidad / Competencia / Actividad / Material de Aprendizaje) | |
1. Microscopía Optica
1.1. Principios básicos de formación de imágenes. 1.1.1. Principios básicos de formación de imágenes. ![]() 1.2. Partes y funcionamiento del microscopio óptico. 1.2.1. Partes y funcionamiento del microscopio óptico. ![]() 1.3. Métodos de iluminación. 1.3.1. Métodos de iluminación. ![]() 1.4. Preparación de muestras. 1.4.1. Preparación de muestras. ![]() 1.5. Interpretación de microestructuras. 1.5.1. Interpretación de microestructuras. ![]() 1.6. Fotomicrografía 1.6.1. Fotomicrografía ![]() 1.7. Analizador de imágenes. 1.7.1. Analizador de imagenes ![]() |
2. TÉCNICA DE DIFRACCIÓN DE RAYOS X
2.1. Naturaleza de los rayos X. 2.1.1. Naturaleza de los rayos X. ![]() 2.2. Fundamentos de generación de rayos X. 2.2.1. Fundamentos de generación de rayos X. ![]() 2.3. Ley de Bragg. 2.3.1. Ley de Bragg. ![]() 2.4. Factor de estructura. 2.4.1. Factor de estructura. ![]() 2.5. Técnicas de difracción de rayos X. 2.5.1. Técnicas de difracción de rayos X. ![]() 2.6. Patrón de difracción de rayos X. 2.6.1. Patron de difraccion de rayos X ![]() 2.7. Método de Rietveld. 2.7.1. Método de Rietveld. ![]() |
3. MICROSCOPIA ELECTRNÓNICA DE BARRIDO
3.1. Descripción y principio de Funcionamiento. 3.1.1. Descripción y principio de Funcionamiento. ![]() 3.2. Fenómenos físicos involucrados. 3.2.1. Fenómenos físicos involucrados. ![]() 3.3. Interpretación de las imágenes. 3.3.1. Interpretación de las imágenes. ![]() 3.4. Preparación de muestras. 3.4.1. Preparación de muestras. ![]() 3.5. Microanálisis por Dispersión de Energía (EDS). 3.5.1. Microanálisis por Dispersión de Energía (EDS). ![]() 3.6. Microanálisis por Dispersión de Longitud de onda (WDS) 3.6.1. Microanálisis por Dispersión de Longitud de onda (WDS) ![]() |
4. MICROSCOPIA ELECTRÓNICA DE TRANSMISIÓN.
4.1. Descripción y principio de Funcionamiento. 4.1.1. Descripción y principio de Funcionamiento. ![]() 4.2. Partes fundamentales del MET. 4.2.1. Partes fundamentales del MET. ![]() 4.3. Técnicas de preparación de muestras. 4.3.1. Técnicas de preparación de muestras. ![]() 4.4. Poder de resolución. 4.4.1. Poder de resolución. ![]() 4.5. Formación de imágenes. 4.5.1. Formación de imágenes. ![]() 4.6. Formación del patrón de difracción. 4.6.1. Formación del patrón de difracción. ![]() 4.7. Reglas de indexación. 4.7.1. Reglas de indexación. ![]() 4.8. Teoría cinemática. 4.8.1. Teoría cinemática. ![]() 4.9. Teoría dinámica. 4.9.1. Teoría dinámica. ![]() |
5. ANÁLISIS TÉRMICO.
5.1. Descripción y principio del funcionamiento del análisis térmico diferencial y termogravimetrico. 5.1.1. Descripción y principio del funcionamiento del análisis térmico diferencial y termogravimetrico. ![]() ![]() 5.2. Fenómenos físicos involucrados. 5.2.1. Fenómenos físicos involucrados. ![]() ![]() 5.3. Tratamiento e interpretación de los datos. 5.3.1. Tratamiento e interpretación de los datos. ![]() 5.4. Dilatometría 5.4.1. Dilatometría ![]() |
6. TECNICAS DE CARACTERIZACION DE PROPIEDADES REOLÓGICAS.
6.1. Viscosidad y Efecto de la Temperatura. 6.1.1. Viscosidad y Efecto de la Temperatura. ![]() 6.2. Granulometría y Morfología. 6.2.1. Granulometría y Morfología. ![]() 6.3. Densidad de Suspensiones. 6.3.1. Densidad de Suspensiones. ![]() 6.4. Modificación de las Propiedades Reológicas. 6.4.1. Modificación de las Propiedades Reológicas. ![]() 6.5. Potencial Z. 6.5.1. Potencial Z ![]() 6.6. pH 6.6.1. pH ![]() |
7. OTRAS TÉCNICAS.
7.1. Espectrometria Mossbauer. 7.1.1. Espectrometria Mossbauer. ![]() ![]() ![]() 7.2. Porosímetro. 7.2.1. Porosímetro. ![]() 7.3. Microscopia de Fuerza Atómica. (AFM). 7.3.1. Microscopia de Fuerza Atómica. (AFM). ![]() 7.4. Microscopia de Efecto Túnel. 7.4.1. Microscopia de Efecto Túnel. ![]() ![]() |
Prácticas de Laboratorio (20242025P) |
Fecha |
Hora |
Grupo |
Aula |
Práctica |
Descripción |
Cronogramas (20242025P) | |||
Grupo | Actividad | Fecha | Carrera |
Temas para Segunda Reevaluación |