Syllabus

MAC-1003 Caracterización Estructural

DR MARIO ADRIAN DE ATOCHA DZUL CERVANTES

maadzul@itescam.edu.mx

Semestre Horas Teoría Horas Práctica Créditos Clasificación
4 2 2 4 Ciencia Ingeniería

Prerrequisitos
Comprende la estructura atómica Conoce las diferentes estructuras cristalinas Aplica los conocimientos fundamentales de cristalografía Comprende los fundamentos de óptica.

Competencias Atributos de Ingeniería
Aplica los principios de formación de imágenes del microscopio óptico y prepara muestras metalográficas para su análisis microestructural.   Identificar, formular y resolver problemas de ingeniería aplicando los principios de las ciencias básicas e ingeniería
Comprende y aplica los principios del funcionamiento del MEB para la caracterización de un material   Identificar, formular y resolver problemas de ingeniería aplicando los principios de las ciencias básicas e ingeniería
Aplica los principios de la difracción de los rayos X para el estudio de la estructura cristalina de un material   Identificar, formular y resolver problemas de ingeniería aplicando los principios de las ciencias básicas e ingeniería
Comprende y aplica los principios del funcionamiento del MET para la caracterización de un material.   Identificar, formular y resolver problemas de ingeniería aplicando los principios de las ciencias básicas e ingeniería

Normatividad
1. El alumno tendrá máximo 10 minutos de retardo, después de ese tiempo se considera falta. 2. El alumno debe tener una libreta exclusiva de la materia, así como calculadora científica, bolígrafo, portaminas y borrador. 3. El alumno deberá prestar atención durante la clase, en caso contrario, no tendrá derecho de aclarar dudas. 4. El alumno debe mostrar respeto al profesor y a sus compañeros. 5. No está permitido comer en el aula. 6. No se permite el uso de dispositivos electrónicos (laptops, celulares, tablets, etc.) en el aula, a menos que la clase lo requiera. 7. Las tareas serán aceptadas siempre que se entreguen en tiempo y forma, después NO se aceptarán. 8. Para tener derecho a entregar tareas, el alumno deberá cubrir al menos el 80% de asistencias. 9. Para tener derecho a reevaluación, el alumno debe entregar las tareas, en caso de NO entregarla, NO tendrá derecho a reevaluación. De igual modo, en caso de que se detecte plagio y/o duplicidad de tareas, ambos autores tendrán que recursar la asignatura. 10. Las prácticas NO son reprogramables. 11. Debido a la CONTINGENCIA COVID-19, en caso de tener algún síntoma o bien, estar en contacto con alguna persona con síntomas, NO asistir de manera presencial, realizar su proceso de justificación de acuerdo al reglamento. Es responsabilidad del (la) estudiante, estar pendiente de las actividades realizadas y por entregar

Materiales

Bibliografía disponible en el Itescam
Título
Autor
Editorial
Edición/Año
Ejemplares
Fundamentos de la ciencia e ingeniería de materiales /
Smith, William F.
Mcgraw hill,
4a. / 2006.
3
-
Fundamentos de química analítica /
Skoog, Douglas A.
International Thomson,
8a. / 2005.
8
-

Parámetros de Examen
PARCIAL 1 De la actividad 1.1.1 a la actividad 2.1.1
PARCIAL 2 De la actividad 3.1.1 a la actividad 4.1.1

Contenido (Unidad / Competencia / Actividad / Material de Aprendizaje)
1. Microscopía óptica
          1.1. Aplica los principios de formación de imágenes del microscopio óptico y prepara muestras metalográficas para su análisis microestructural.
                   1.1.1. Investigar e Ilustrar la formación de imágenes de acuerdo a los componentes del microscopio, para identificar el efecto de los objetivos para amplificación de imágenes y poder preparar muestras metalográficas, y así distinguir formas características
                           Douglas, S. y Leary, J. (2012). Principios de Análisis Instrumental. McGraw – Hill.
                          
2. Técnicas de difracción de rayos X
          2.1. Aplica los principios de la difracción de los rayos X para el estudio de la estructura cristalina de un material
                   2.1.1. Resumir las fuentes de información la naturaleza y generación de los rayos X. Así mismo, explicar la Ley de Bragg considerando el fenómeno de difracción e interpretar los patrones de difracción de una muestra para determinar sus propiedades estructur
                           Douglas, S. y Leary, J. (2012). Principios de Análisis Instrumental. McGraw – Hill.
                          
                   2.1.2. Parcial 1
                           Douglas, S. y Leary, J. (2012). Principios de Análisis Instrumental. McGraw – Hill.
                          
3. Microscopía electrónica de barrido
          3.1. Comprende y aplica los principios del funcionamiento del MEB para la caracterización de un material
                   3.1.1. Ilustrar la formación de imágenes de acuerdo a las leyes de la reflexión, para contrastar entre los métodos de preparación de muestras para microscopía óptica y MEB, y así distinguir entre fases presentes en las imágenes de muestras, asociándolas a c
                           Douglas, S. y Leary, J. (2012). Principios de Análisis Instrumental. McGraw – Hill.
                          
4. Microscopía electrónica de transmisión
          4.1. Comprende y aplica los principios del funcionamiento del MET para la caracterización de un material.
                   4.1.1. Resumir las fuentes de información con lo relativo a la cinemática y dinámica aplicable a MET, para contrastar entre los métodos de preparación de muestras para microscopía óptica, MEB y MET y poder interpretar los patrones de difracción de una muest
                           Douglas, S. y Leary, J. (2012). Principios de Análisis Instrumental. McGraw – Hill.
                          
                   4.1.2. Parcial 2
                           Douglas, S. y Leary, J. (2012). Principios de Análisis Instrumental. McGraw – Hill.
                          

Prácticas de Laboratorio (20212022P)
Fecha
Hora
Grupo
Aula
Práctica
Descripción
2022-03-02
MIERCOLES
13:00-14:00
4-A
Lab. de Instrumentación Analítica
PREPARACIÓN DE MUESTRAS METÁLICAS PARA ANALIZARLAS EN EL MICROSCOPIO METALOGRAFICO
2022-03-22
MARTES
12:00-13:00
4-A
Lab. de Automatización Anexo Mecánica
EL MICROSCOPIO METALOGRAFICO: MANEJO Y CUIDADOS
2022-03-22
MARTES
13:00-14:00
4-A
Lab. de Instrumentación Analítica
PREPARACIÓN DE MUESTRAS METÁLICAS PARA ANALIZARLAS EN EL MICROSCOPIO METALOGRAFICO
2022-05-18
MIERCOLES
15:00-18:00
4-A
Lab. de Biotecnología
Elaboración de un Microscopio Metalográfico
2022-05-25
MIERCOLES
15:00-18:00
4-A
Lab. de Automatización Anexo Mecánica
Elaboración de un Microscopio Metalográfico

Cronogramas (20212022P)
Grupo Actividad Fecha Carrera
4 A 1.1.1 Investigar e Ilustrar la formación de imágenes de acuerdo a los componentes del microscopio, para identificar el efecto de los objetivos para amplificación de imágenes y poder preparar muestras metalográficas, y así distinguir formas características 2022-02-08 IMAT-2010-222
4 A 1.1.1 Investigar e Ilustrar la formación de imágenes de acuerdo a los componentes del microscopio, para identificar el efecto de los objetivos para amplificación de imágenes y poder preparar muestras metalográficas, y así distinguir formas características 2022-02-09 IMAT-2010-222
4 A 1.1.1 Investigar e Ilustrar la formación de imágenes de acuerdo a los componentes del microscopio, para identificar el efecto de los objetivos para amplificación de imágenes y poder preparar muestras metalográficas, y así distinguir formas características 2022-02-15 IMAT-2010-222
4 A 1.1.1 Investigar e Ilustrar la formación de imágenes de acuerdo a los componentes del microscopio, para identificar el efecto de los objetivos para amplificación de imágenes y poder preparar muestras metalográficas, y así distinguir formas características 2022-02-16 IMAT-2010-222
4 A 1.1.1 Investigar e Ilustrar la formación de imágenes de acuerdo a los componentes del microscopio, para identificar el efecto de los objetivos para amplificación de imágenes y poder preparar muestras metalográficas, y así distinguir formas características 2022-02-22 IMAT-2010-222
4 A 1.1.1 Investigar e Ilustrar la formación de imágenes de acuerdo a los componentes del microscopio, para identificar el efecto de los objetivos para amplificación de imágenes y poder preparar muestras metalográficas, y así distinguir formas características 2022-02-23 IMAT-2010-222
4 A 2.1.1 Resumir las fuentes de información la naturaleza y generación de los rayos X. Así mismo, explicar la Ley de Bragg considerando el fenómeno de difracción e interpretar los patrones de difracción de una muestra para determinar sus propiedades estructur 2022-03-08 IMAT-2010-222
4 A 2.1.1 Resumir las fuentes de información la naturaleza y generación de los rayos X. Así mismo, explicar la Ley de Bragg considerando el fenómeno de difracción e interpretar los patrones de difracción de una muestra para determinar sus propiedades estructur 2022-03-09 IMAT-2010-222
4 A 2.1.1 Resumir las fuentes de información la naturaleza y generación de los rayos X. Así mismo, explicar la Ley de Bragg considerando el fenómeno de difracción e interpretar los patrones de difracción de una muestra para determinar sus propiedades estructur 2022-03-15 IMAT-2010-222
4 A 2.1.1 Resumir las fuentes de información la naturaleza y generación de los rayos X. Así mismo, explicar la Ley de Bragg considerando el fenómeno de difracción e interpretar los patrones de difracción de una muestra para determinar sus propiedades estructur 2022-03-16 IMAT-2010-222
4 A 2.1.1 Resumir las fuentes de información la naturaleza y generación de los rayos X. Así mismo, explicar la Ley de Bragg considerando el fenómeno de difracción e interpretar los patrones de difracción de una muestra para determinar sus propiedades estructur 2022-03-22 IMAT-2010-222
4 A 2.1.1 Resumir las fuentes de información la naturaleza y generación de los rayos X. Así mismo, explicar la Ley de Bragg considerando el fenómeno de difracción e interpretar los patrones de difracción de una muestra para determinar sus propiedades estructur 2022-03-23 IMAT-2010-222
4 A 2.1.2 Parcial 1 2022-03-29 IMAT-2010-222
4 A 3.1.1 Ilustrar la formación de imágenes de acuerdo a las leyes de la reflexión, para contrastar entre los métodos de preparación de muestras para microscopía óptica y MEB, y así distinguir entre fases presentes en las imágenes de muestras, asociándolas a c 2022-03-30 IMAT-2010-222
4 A 3.1.1 Ilustrar la formación de imágenes de acuerdo a las leyes de la reflexión, para contrastar entre los métodos de preparación de muestras para microscopía óptica y MEB, y así distinguir entre fases presentes en las imágenes de muestras, asociándolas a c 2022-04-05 IMAT-2010-222
4 A 3.1.1 Ilustrar la formación de imágenes de acuerdo a las leyes de la reflexión, para contrastar entre los métodos de preparación de muestras para microscopía óptica y MEB, y así distinguir entre fases presentes en las imágenes de muestras, asociándolas a c 2022-04-06 IMAT-2010-222
4 A 3.1.1 Ilustrar la formación de imágenes de acuerdo a las leyes de la reflexión, para contrastar entre los métodos de preparación de muestras para microscopía óptica y MEB, y así distinguir entre fases presentes en las imágenes de muestras, asociándolas a c 2022-04-26 IMAT-2010-222
4 A 3.1.1 Ilustrar la formación de imágenes de acuerdo a las leyes de la reflexión, para contrastar entre los métodos de preparación de muestras para microscopía óptica y MEB, y así distinguir entre fases presentes en las imágenes de muestras, asociándolas a c 2022-04-27 IMAT-2010-222
4 A 3.1.1 Ilustrar la formación de imágenes de acuerdo a las leyes de la reflexión, para contrastar entre los métodos de preparación de muestras para microscopía óptica y MEB, y así distinguir entre fases presentes en las imágenes de muestras, asociándolas a c 2022-05-03 IMAT-2010-222
4 A 3.1.1 Ilustrar la formación de imágenes de acuerdo a las leyes de la reflexión, para contrastar entre los métodos de preparación de muestras para microscopía óptica y MEB, y así distinguir entre fases presentes en las imágenes de muestras, asociándolas a c 2022-05-04 IMAT-2010-222
4 A 4.1.1 Resumir las fuentes de información con lo relativo a la cinemática y dinámica aplicable a MET, para contrastar entre los métodos de preparación de muestras para microscopía óptica, MEB y MET y poder interpretar los patrones de difracción de una muest 2022-05-11 IMAT-2010-222
4 A 4.1.1 Resumir las fuentes de información con lo relativo a la cinemática y dinámica aplicable a MET, para contrastar entre los métodos de preparación de muestras para microscopía óptica, MEB y MET y poder interpretar los patrones de difracción de una muest 2022-05-17 IMAT-2010-222
4 A 4.1.1 Resumir las fuentes de información con lo relativo a la cinemática y dinámica aplicable a MET, para contrastar entre los métodos de preparación de muestras para microscopía óptica, MEB y MET y poder interpretar los patrones de difracción de una muest 2022-05-18 IMAT-2010-222
4 A 4.1.1 Resumir las fuentes de información con lo relativo a la cinemática y dinámica aplicable a MET, para contrastar entre los métodos de preparación de muestras para microscopía óptica, MEB y MET y poder interpretar los patrones de difracción de una muest 2022-05-24 IMAT-2010-222
4 A 4.1.1 Resumir las fuentes de información con lo relativo a la cinemática y dinámica aplicable a MET, para contrastar entre los métodos de preparación de muestras para microscopía óptica, MEB y MET y poder interpretar los patrones de difracción de una muest 2022-05-25 IMAT-2010-222
4 A 4.1.1 Resumir las fuentes de información con lo relativo a la cinemática y dinámica aplicable a MET, para contrastar entre los métodos de preparación de muestras para microscopía óptica, MEB y MET y poder interpretar los patrones de difracción de una muest 2022-05-31 IMAT-2010-222
4 A 4.1.1 Resumir las fuentes de información con lo relativo a la cinemática y dinámica aplicable a MET, para contrastar entre los métodos de preparación de muestras para microscopía óptica, MEB y MET y poder interpretar los patrones de difracción de una muest 2022-06-01 IMAT-2010-222
4 A 4.1.2 Parcial 2 2022-06-07 IMAT-2010-222

Temas para Segunda Reevaluación