Syllabus
MAC-1003 Caracterización Estructural
DR. ALEJANDRO ORTIZ FERNANDEZ
aeortiz@itescam.edu.mx
| Semestre | Horas Teoría | Horas Práctica | Créditos | Clasificación |
| 4 | 2 | 2 | 4 | Ciencia Ingeniería |
| Prerrequisitos |
| El alumno para poder llevar la asignatura de caracterización estructural deberá tener las siguientes competencias previas: 1) comprende la estructura atómica, 2) conoce las diferentes estructuras cristalinas, 3) aplica los conocimientos fundamentales de cristalografía y 3) comprende los fundamentos de óptica. |
| Competencias | Atributos de Ingeniería |
| Aplica los principios de formación de imágenes del microscopio óptico y prepara muestras metalográficas para su análisis microestructural. | Desarrollar y conducir una experimentación adecuada; analizar e interpretar datos y utilizar el juicio ingenieril para establecer conclusiones | Aplica los principios de la difracción de los rayos X para el estudio de la estructura cristalina de un material | Aplicar, analizar y sintetizar procesos de diseño de ingeniería que resulten en proyectos que cumplen las necesidades específicas | Comprende y aplica los principios del funcionamiento del MEB para la caracterización de un material | Identificar, formular y resolver problemas de ingeniería aplicando los principios de las ciencias básicas e ingeniería | Comprende y aplica los principios del funcionamiento del MET para la caracterización de un material. | Identificar, formular y resolver problemas de ingeniería aplicando los principios de las ciencias básicas e ingeniería |
| Normatividad |
| 1. El pase de lista, se realizará al inicio de la sesión, tendrán 15 min posteriores a este tiempo para poder ingresar al salón de clases, posteriores a este tiempo, ya no podrán ingresar al salón y se tomará como falta automática; asimismo, es requisito para presentar el examen institucional que el alumno cuente con un mínimo de 80% de asistencia. 2.- Las faltas sólo podrán ser justificadas con documentos oficiales y el encargado de quitar las inasistencias es el jefe de división del PE. 3.- Los trabajos de investigación, tareas y/o exposiciones, deberán entregarse en tiempo y forma indicada, no se aceptarán de manera extemporánea. 4.- Los alumnos deberán dirigirse con respeto y de manera apropiada a sus compañeros y autoridades del instituto usando un lenguaje apropiado y cortés. 5.- Los teléfonos celulares deben ser apagados antes de la sesión o configurarlo en la modalidad de silencio. 6.- Está prohibido introducir alimentos al salón de clases. 7.- Es responsabilidad del alumno participar activamente en los sistemas diseñados para la educación (MOODLE), así como en el salón clase a través de los sistemas y dinámicas diseñadas para tal efecto. |
| Materiales |
| Libreta de apuntes, bitácora para prácticas de laboratorio y bata de laboratorio. |
| Bibliografía disponible en el Itescam | |||||
Título |
Autor |
Editorial |
Edición/Año |
Ejemplares |
|
| Materials engineering and design / |
Ashby, Michael |
Butterwort-Heinemann, |
2008. |
8 |
- |
Materiales para ingeniería 1: Introducción a las propiedades, las aplicaciones y el diseño/ |
Ashby, Michael F. |
Reverte, |
2008. |
1 |
- |
Introducción a la ciencia de materiales para ingenieros / |
Shackelford, James F. |
Pearson educación, |
2010. |
2 |
- |
Ciencia e ingeniería de materiales : |
Askeland, Donald R. |
Cengage, |
2022. |
0 |
- |
| Parámetros de Examen | ||
| PARCIAL 1 | De la actividad 1.1.1 a la actividad 2.1.3 | |
| PARCIAL 2 | De la actividad 3.1.1 a la actividad 4.1.3 | |
| Contenido (Unidad / Competencia / Actividad / Material de Aprendizaje) | |
| 1. Microscopía óptica
1.1. Aplica los principios de formación de imágenes del microscopio óptico y prepara muestras metalográficas para su análisis microestructural. 1.1.1. Investigar e Ilustrar la formación de imágenes de acuerdo a los componentes del microscopio. 
Componentes del microscopio (34951 bytes)
Manual de practicas (1078273 bytes)
1.1.2. Identificar el efecto de los objetivos para amplificación de imágenes.
Tipos de objetivos (744695 bytes)
1.1.3. Preparar muestras metalográficas.
Metalografía (1963447 bytes)
1.1.4. Distinguir formas características en las imágenes, asociándolas a alguna microestructura.
Características en las imágenes (5452451 bytes)
|
2. Técnicas de difracción de rayos X
2.1. Aplica los principios de la difracción de los rayos X para el estudio de la estructura cristalina de un material 2.1.1. Resume de las fuentes de información la naturaleza y generación de los rayos X.
DRX (42293 bytes)
2.1.2. Explica la Ley de Bragg considerando el fenómeno de difracción.
Ley de bragg (377671 bytes)
2.1.3. Interpreta los patrones de difracción de una muestra para determinar sus propiedades estructurales.
Patrón de difracción (42293 bytes)
|
3. Microscopía electrónica de barrido
3.1. Comprende y aplica los principios del funcionamiento del MEB para la caracterización de un material 3.1.1. Ilustrar la formación de imágenes de acuerdo a las leyes de la reflexión.
Reflexion (2307512 bytes)
3.1.2. Contrasta entre los métodos de preparación de muestras para microscopía óptica y MEB.
Diferencia (2348041 bytes)
3.1.3. Distingue entre fases presentes en las imágenes de muestras, asociándolas a características morfológicas.
Fases (5452451 bytes)
|
4. Microscopía electrónica de transmisión
4.1. Comprende y aplica los principios del funcionamiento del MET para la caracterización de un material. 4.1.1. Resume de las fuentes de información lo relativo a la cinemática y dinámica aplicable a MET.
TEM (4561134 bytes)
4.1.2. Contrasta entre los métodos de preparación de muestras para microscopía óptica, MEB y MET.
SEM y TEM (664327 bytes)
4.1.3. Interpreta los patrones de difracción de una muestra para determinar sus propiedades estructurales.
Patrones (621613 bytes)
|
| Prácticas de Laboratorio (20232024P) |
Fecha |
Hora |
Grupo |
Aula |
Práctica |
Descripción |
2024-02-01 JUEVES |
14:00-16:00 |
4-A |
Taller Multidisciplinario |
Analisis Metalografico 1: preparacion de muestras
|
|
2024-02-09 VIERNES |
14:00-16:00 |
4-A |
Lab. de Ciencias Básicas |
Conocimiento y uso del microscopio optico
|
|
2024-02-16 VIERNES |
10:00-13:00 |
4-A |
Taller Multidisciplinario Anexo Proyecto, Otros |
Preparación de muestras metalograficas
|
|
2024-02-23 VIERNES |
10:00-13:00 |
4-A |
Lab. de Ciencias Básicas |
Observacion de muestras metalográficas
|
|
2024-03-01 VIERNES |
14:00-16:00 |
4-A |
Taller Multidisciplinario |
Analisis Metalografico 1: preparacion de muestras
|
|
2024-04-22 LUNES |
13:00-15:00 |
4-A |
Lab. de Ciencias Básicas |
Preparacion histologica de muestras para microscopio
|
|
2024-05-13 LUNES |
13:00-15:00 |
4-A |
Lab. de Ciencias Básicas |
Medición de viscosidad
|
| Cronogramas (20232024P) | |||
| Grupo | Actividad | Fecha | Carrera |
| 4 A | 1.1.1 Investigar e Ilustrar la formación de imágenes de acuerdo a los componentes del microscopio. | 2024-01-29 | IMAT-2010-222 |
| 4 A | 1.1.1 Investigar e Ilustrar la formación de imágenes de acuerdo a los componentes del microscopio. | 2024-02-02 | IMAT-2010-222 |
| 4 A | 1.1.2 Identificar el efecto de los objetivos para amplificación de imágenes. | 2024-02-09 | IMAT-2010-222 |
| 4 A | 1.1.3 Preparar muestras metalográficas. | 2024-02-16 | IMAT-2010-222 |
| 4 A | 1.1.4 Distinguir formas características en las imágenes, asociándolas a alguna microestructura. | 2024-02-19 | IMAT-2010-222 |
| 4 A | 2.1.1 Resume de las fuentes de información la naturaleza y generación de los rayos X. | 2024-02-23 | IMAT-2010-222 |
| 4 A | 2.1.2 Explica la Ley de Bragg considerando el fenómeno de difracción. | 2024-02-26 | IMAT-2010-222 |
| 4 A | 2.1.2 Explica la Ley de Bragg considerando el fenómeno de difracción. | 2024-03-01 | IMAT-2010-222 |
| 4 A | 2.1.2 Explica la Ley de Bragg considerando el fenómeno de difracción. | 2024-03-04 | IMAT-2010-222 |
| 4 A | 2.1.3 Interpreta los patrones de difracción de una muestra para determinar sus propiedades estructurales. | 2024-03-08 | IMAT-2010-222 |
| 4 A | 2.1.3 Interpreta los patrones de difracción de una muestra para determinar sus propiedades estructurales. | 2024-03-11 | IMAT-2010-222 |
| 4 A | 2.1.3 Interpreta los patrones de difracción de una muestra para determinar sus propiedades estructurales. | 2024-03-15 | IMAT-2010-222 |
| 4 A | 2.1.3 Interpreta los patrones de difracción de una muestra para determinar sus propiedades estructurales. | 2024-03-22 | IMAT-2010-222 |
| 4 A | 3.1.1 Ilustrar la formación de imágenes de acuerdo a las leyes de la reflexión. | 2024-04-08 | IMAT-2010-222 |
| 4 A | 3.1.1 Ilustrar la formación de imágenes de acuerdo a las leyes de la reflexión. | 2024-04-12 | IMAT-2010-222 |
| 4 A | 3.1.2 Contrasta entre los métodos de preparación de muestras para microscopía óptica y MEB. | 2024-04-15 | IMAT-2010-222 |
| 4 A | 3.1.2 Contrasta entre los métodos de preparación de muestras para microscopía óptica y MEB. | 2024-04-19 | IMAT-2010-222 |
| 4 A | 3.1.3 Distingue entre fases presentes en las imágenes de muestras, asociándolas a características morfológicas. | 2024-04-22 | IMAT-2010-222 |
| 4 A | 3.1.3 Distingue entre fases presentes en las imágenes de muestras, asociándolas a características morfológicas. | 2024-04-26 | IMAT-2010-222 |
| 4 A | 4.1.1 Resume de las fuentes de información lo relativo a la cinemática y dinámica aplicable a MET. | 2024-04-29 | IMAT-2010-222 |
| 4 A | 4.1.1 Resume de las fuentes de información lo relativo a la cinemática y dinámica aplicable a MET. | 2024-05-03 | IMAT-2010-222 |
| 4 A | 4.1.2 Contrasta entre los métodos de preparación de muestras para microscopía óptica, MEB y MET. | 2024-05-13 | IMAT-2010-222 |
| 4 A | 4.1.3 Interpreta los patrones de difracción de una muestra para determinar sus propiedades estructurales. | 2024-05-17 | IMAT-2010-222 |
| Temas para Segunda Reevaluación |